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Titlebook: Ion Beams in Nanoscience and Technology; Ragnar Hellborg,Harry J. Whitlow,Yanwen Zhang Book 20101st edition Springer-Verlag Berlin Heidelb

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樓主: VERSE
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發(fā)表于 2025-3-26 21:17:33 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 01:52:15 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 07:23:27 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-27 12:55:51 | 只看該作者
Nanoscale Materials Defect Characterisation order of 1,000?cm. is easily found in multiple quantum well structures with 1? μm thickness and a 2–5?nm period. Hence, the interface behaviour will dominate or have a crucial impact on the properties of these structures. Additional defects will be mostly located at such interfaces in the form of p
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發(fā)表于 2025-3-27 16:59:53 | 只看該作者
Box 6: Nanoscale Defectsferent type of defects with particular emphasis on point and linear defects. Above zero Kelvin all real materials have a defect population within their structure, which affects either their crystalline, electronic or optical properties. It is common to attribute a negative connotation to the presenc
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發(fā)表于 2025-3-27 18:33:56 | 只看該作者
Box 7: Diagnostic Ion Beam Luminescenceerful diagnostic tool of the host material, both in its initial and in later modified forms. The changes in intensity and emission spectra provide information on the state of the near surface region excited by the ions. The various types of imperfections which exist in the range of the ion beam infl
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發(fā)表于 2025-3-28 00:35:48 | 只看該作者
Systeme.übersichtliche tabellarische Zusammenfassungen.AusfDer Informatik wird in der ?ffentlichen Wahrnehmung seit bald drei Jahrzehnten eine Schlüsselrolle in der technologischen Entwicklung zugeordnet. Themen der aktuellen ?ffentlichen Diskussion, wie das "Y2K"-Problem oder E-Commerce, beflügeln
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發(fā)表于 2025-3-28 03:26:14 | 只看該作者
die theoretischen Betrachtungen in. sowie für die Entwicklung der Methodik in.. Ziel dieses Kapitels ist es, den Leser mit der hohen Komplexit?t und den vielf?ltigen Aspekten vertraut zu machen, die bei der Entwicklung komplexer Gro?serienprodukte berücksichtigt werden müssen. Es soll gezeigt werde
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發(fā)表于 2025-3-28 08:48:27 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 12:11:29 | 只看該作者
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