找回密碼
 To register

QQ登錄

只需一步,快速開始

掃一掃,訪問微社區(qū)

打印 上一主題 下一主題

Titlebook: GI — 18. Jahrestagung II; Vernetzte und komple Rüdiger Valk Conference proceedings 1988 Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988 Augmented Re

[復制鏈接]
樓主: 相反
31#
發(fā)表于 2025-3-27 00:41:13 | 只看該作者
978-3-540-50360-6Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1988
32#
發(fā)表于 2025-3-27 02:10:50 | 只看該作者
33#
發(fā)表于 2025-3-27 06:07:09 | 只看該作者
0343-3005 Overview: 978-3-540-50360-6978-3-642-74135-7Series ISSN 0343-3005
34#
發(fā)表于 2025-3-27 11:28:50 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31522-4 semiconductor processing technology, on the other hand computer aided design. Whereas the first is a problem for physics and chemistry, the progress in the second field results from large activities in electrical engineering and computer science. Although a large body of knowledge about solutions t
35#
發(fā)表于 2025-3-27 16:18:17 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31521-7forderlichen kurzen Reaktionszeiten zu erreichen. Wichtige Schwerpunkte unserer Arbeit sind in diesem Zusammenhang die Entwicklung einer geeigneten Architektur für die Realisierung der Algorithmen und die Integration der entwickelten Schaltungen als Coprozessor in ein bestehendes Rechnersystem. In d
36#
發(fā)表于 2025-3-27 19:14:07 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-31520-0n, das in Wafer Scale Technik gefertigt wird. Ein Knotenprozessor enth?lt sechs ein-Bit Register, eine ein-Bit ALU und 128 Bits RAM. Zur Erzielung von Defekttoleranz wird eine zweistufige Hierarchie mit unterschiedlichen Rekonfigurierungskonzepten verwendet. Anwendungen eines solchen SIMD-Arrays erg
37#
發(fā)表于 2025-3-28 00:04:50 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-662-42314-1stiger Teststrategien, die auf spezielle Problemstellungen abgestimmt werden. Im Rahmen dieses Beitrages wird aufgezeigt, wie durch den Einsatz eines unvollst?ndigen Prüfpfades die Testmusterbestimmung nicht für ein beliebiges synchrones Schaltwerk durchzuführen ist, sondern auf den einfacheren Test
38#
發(fā)表于 2025-3-28 05:11:34 | 只看該作者
39#
發(fā)表于 2025-3-28 08:17:18 | 只看該作者
https://doi.org/10.1007/978-3-663-05138-1nen Konflikte auftreten, die mit Hilfe von Backtracking-Verfahren aufgel?st werden. Wir pr?sentieren hier eine Methode, die es erlaubt, globale Schaltungseigenschaften bei der Testmustergenerierung auszunutzen. Am Beispiel des FAN-Algorithmus wird demonstriert, wie diese Methode einen hierarchischen
40#
發(fā)表于 2025-3-28 13:12:09 | 只看該作者
 關于派博傳思  派博傳思旗下網站  友情鏈接
派博傳思介紹 公司地理位置 論文服務流程 影響因子官網 吾愛論文網 大講堂 北京大學 Oxford Uni. Harvard Uni.
發(fā)展歷史沿革 期刊點評 投稿經驗總結 SCIENCEGARD IMPACTFACTOR 派博系數 清華大學 Yale Uni. Stanford Uni.
QQ|Archiver|手機版|小黑屋| 派博傳思國際 ( 京公網安備110108008328) GMT+8, 2025-10-10 00:51
Copyright © 2001-2015 派博傳思   京公網安備110108008328 版權所有 All rights reserved
快速回復 返回頂部 返回列表
绥阳县| 新丰县| 虞城县| 华容县| 琼海市| 乡城县| 滨海县| 丹东市| 永昌县| 宁安市| 南雄市| 纳雍县| 三原县| 阜康市| 建瓯市| 仁怀市| 锦屏县| 卓资县| 溆浦县| 勐海县| 尚志市| 博兴县| 鄂伦春自治旗| 微山县| 日喀则市| 固始县| 开阳县| 长宁县| 高陵县| 乌拉特中旗| 东乡族自治县| 陇南市| 台南市| 镇赉县| 无棣县| 商河县| 庆元县| 武鸣县| 天等县| 青阳县| 杭锦旗|