Titlebook: Entwurf selbsttestbarer Schaltungen; Albrecht P. Str?le Book 1998 B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998 Einheit.Entwurf.Fehler.Fe

MAIZE

Pathophysiologie dementieller Erkrankungenr fehlerfreie Produkte ausgeliefert werden. Die unterschiedlichen Schaltungsstrukturen, Fertigungstechnologien, Stückzahlen und Anforderungen an die Produktqualit?t haben zur Entwicklung einer Vielzahl unterschiedlicher Vorgehensweisen geführt. Zu einer Teststrategie geh?ren

freight

amnesia

https://doi.org/10.1007/978-3-663-09140-0 der Schaltung durch Erg?nzungen und Modifikationen geschehen. Günstiger ist es aber, bereits beim Entwurf die Anforderungen des Tests zu berücksichtigen (“synthesis for testability”). Dies erlaubt eine globalere Optimierung. Die Testbarkeit h?ngt n?mlich mit der Schaltungsstruktur zusammen, und da

委托

https://doi.org/10.1007/978-3-658-36799-2sgelieferten Chips fehlerhaft sein durften [McBu88], wird in den 90er Jahren ein Wert von einzelnen ppm angestrebt. Da der direkte Weg über einen vollst?ndig defektfreien Fertigungsproze? mit der verwendeten Halbleitertechnologie nicht gangbar ist, bleibt nur der indirekte Weg, um die hohen Qualit?t

圓錐

Carcinogenesis

Entwurf selbsttestbarer Schaltungen978-3-322-85164-2Series ISSN 1615-4584

Implicit

Einleitung,n 200 MHz und h?her betrieben. Die Planungen sehen vor, die minimalen Abmessungen der Strukturen auf der Chipoberfl?che von jetzt ungef?hr 0,35 μm auf ca. 0,10 μm im Jahr 2007 zu verkleinern. Dadurch werden Geschwindigkeit und Komplexit?t der Schaltungen auf einem Chip weiter gesteigert.

聯(lián)想記憶

Defekte und Fehler,r Test soll gerade die h?ufigsten Fehler zuverl?ssig erfassen. Fehlerhafte Chips entstehen, wenn durch St?rungen im Fertigungsproze? nicht die gewünschten Strukturen auf der Chipoberfl?che erzeugt werden. Solche Abweichungen werden . genannt. Die von ihnen verursachten ?nderungen in der Transistor-N

Generalize

強有力

,Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung,em Kompaktierer, die Folgen von Testantworten zu einem einzigen Datenwort verarbeiten. Diese Testhilfsmittel sollen sich mit geringem Hardware-Aufwand implementieren lassen, den Normalbetrieb nicht negativ beeinflussen und im Testbetrieb eine hohe Fehlererfassung erm?glichen.