| 書目名稱 | Entwurf selbsttestbarer Schaltungen |
| 編輯 | Albrecht P. Str?le |
| 視頻video | http://file.papertrans.cn/313/312377/312377.mp4 |
| 叢書名稱 | Teubner Texte zur Informatik |
| 圖書封面 |  |
| 描述 | Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, da? alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so da? der Chip sich autonom, ohne teure externe Ger?te testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, da? viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit ben?tigt. |
| 出版日期 | Book 1998 |
| 關(guān)鍵詞 | Einheit; Entwurf; Fehler; Fertigung; Forschung; Halbleiterfertigung; Hardware-Strukturen; Methoden; Musterer |
| 版次 | 1 |
| doi | https://doi.org/10.1007/978-3-322-85164-2 |
| isbn_softcover | 978-3-8154-2314-1 |
| isbn_ebook | 978-3-322-85164-2Series ISSN 1615-4584 |
| issn_series | 1615-4584 |
| copyright | B. G. Teubner Verlagsgesellschaft Leipzig 1998 |
|Archiver|手機(jī)版|小黑屋|
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GMT+8, 2025-11-3 05:47
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