SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties 2024/2025影響因子:2.177 (SURF TOPOGR-METROL) (2051-672X). (MATERIALS SCIE

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Submitted on: 18 April 2004. Revised on: 22 May 2004. Accepted on: 06 June 2004. Surface Topography-Metrology and Properties

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Submitted on: 10 June 2000. Revised on: 06 July 2000. Accepted on: 26 July 2000. Surface Topography-Metrology and Properties

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Submitted on: 22 March 2005. Revised on: 28 April 2005. Accepted on: 17 May 2005. Surface Topography-Metrology and Properties

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