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Titlebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Elec; Verhandlungen Band I W. Bargmann,G. M

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樓主: informed
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發(fā)表于 2025-3-28 16:22:34 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-28 22:28:11 | 只看該作者
Bildaufzeichnungsverfahren. Besonders bezieht sich das auf biologische Objekte. In der Reflexionsmikroskopie ist das Bild bereits bei geringen Vergr??erungen ?u?erst elektronenarm. In solchen F?llen besteht das Bedürfnis, die Bildintensit?t zu steigern, um sich die Scharfstellung des Mikroskops zu erleichtern.
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發(fā)表于 2025-3-29 00:34:25 | 只看該作者
Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze)urch Anwendung der übertragungstheorie auf das Problem der Wiedergabe kleiner Details im Elektronenmikroskop wurde eine Beziehung hergeleitet, die Angaben über diejenige photographische Schicht gestattet, mit der eine optimale Aufzeichnung m?glich ist. Die Auswertung dieser Ergebnisse ist der Inhalt
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發(fā)表于 2025-3-29 07:08:29 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-29 08:53:17 | 只看該作者
Vakuum, Strahlspannung, LinsendurchflutungAufbau der Anlage. In besonderen F?llen, z. B. in der Elektronenmikroskopie, gesellt sich zu diesen Forderungen noch als dritte diejenige der Freiheit von Vibrationen, wie sie von der rotierenden Pumpe übertragen werden k?nnen. Hochvakuumanlagen, die diese Forderungen weitgehend erfüllen, sind in de
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發(fā)表于 2025-3-29 13:38:57 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-29 18:05:26 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-29 23:31:52 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-30 02:35:11 | 只看該作者
R?ntgen-Projektionsmikroskopie the direct projection methods. The total reflection method, in which true focussing of X-rays takes place at polished cylindrical mirrors, has been investigated very thoroughly by . and . (.) and a detailed account of its present state has been given by . and . (.). It has attained a resolving powe
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發(fā)表于 2025-3-30 05:57:53 | 只看該作者
Elektronen- und R?ntgen-Rastermikroskopie) have been described in the literature. In 1956, an experimental X-ray micro-analyzer (.) was constructed at the A. E. I. Research Laboratory for research into micro — analysis ; this instrument has also been used in problems of metallurgy and surface physics (.) in conjunction with electron diffra
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