Titlebook: Spintronics-based Computing; Weisheng Zhao,Guillaume Prenat Book 2015 Springer International Publishing Switzerland 2015 Emerging Memory.S

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Statistical Reliability/Energy Characterization in STT-RAM Cell Designs,ced to enable efficient statistical simulations in STT-RAM designs, followed by its applications on modeling the STT-RAM cell write error rate and write energy distributions. The array-level reliability-driven design exploration of STT-RAM will be also discussed.

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Jianshi Tang,Qiming Shao,Pramey Upadhyaya,Pedram Khalili Amiri,Kang L. Wang

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Naoharu Shimomura,Shinobu Fujita,Keiko Abe,Hiroki Noguchi,Hiroaki Yoda

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Guillaume Prenat,Kotb Jabeur,Gregory Di Pendina,Olivier Boulle,Gilles Gaudin

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Bojan Jovanovi?,Raphael Martins Brum,Lionel Torres

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