Titlebook: Sechstes Kolloquium über metallkundliche Analyse mit besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrah; M. K. Zacherl Conference proceedings

概觀

美麗的寫

,Berührungslose Temperaturmessung an elektronenbestrahlten Targets in der Mikrosonde, Bei schlecht w?rmeleitendem Material und dünnen Schichten k?nnen jedoch betr?chtliche Temperaturen entstehen, die zu tiefgreifenden Ver?nderungen wie Diffusionen, Aufschmelzungen und Zersetzungen führen k?nnen. In solchen F?llen kann die Aussage der Elektronenstrahlmikroanalyse überhaupt fragwürdig werden.

Countermand

,Einflu? der erstarrungsbedingten Chromseigerung auf die Kohlenstoffverteilung,ungen behafteten technischen St?hlen selbst bei Vorliegen eines metallographisch einheitlichen Gefüges starke H?rteunterschiede bestehen.. Diese H?rteschwankungen sind so gro?, da? sie durch die seigerungsbedingt unterschiedlichen Gehalte der einzelnen Mikrobereiche an metallischen Legierungselementen schwerlich erkl?rt werden k?nnen.

帶來墨水

,Die Bestimmung von Calzium-Silikat-Einschlüssen im Stahl,-Gehalte zwischen 0 und 8%. Durch die Elektronenstrahl-Mikroanalyse wurden dagegen an den gleichen Proben vorwiegend CaO-haltige Einschlüsse nachgewiesen. Haupts?chlich traten die folgenden zwei Formen oxydischer Einschlüsse auf:

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Fortschritte auf dem Gebiet der Kossel-Technik,toren. Mit letzteren stehen leistungsf?hige Ger?te zur Verfügung, um die Vorteile, welche die Kossel-Interferenzen im Vergleich zu anderen Beugungsverfahren besitzen, in vollem Umfang auszunutzen. In Tabelle 1 werden die Vor-und Nachteile der Kossel-Technik aufgeführt.

嚴(yán)峻考驗(yàn)

,Zur Frage der günstigsten Anregungsspannung bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse,nenstrahl-Mikroanalyse, nur nicht so feinfokussiert erzeugt wird, wird im allgemeinen eine Anregungsspannung verwendet, die 3–4mal so gro? ist wie die kritische Anregungsspannung. Diese Arbeitsweise stammt wohl daher, da? sich unter diesen Bedingungen bei den früher üblichen photographischen Aufnahm

AGOG

Zur Frage der Bestimmung des Untergrundes bei der quantitativen Mikroanalyse,htigste ist die Messung der Strahlungsintensit?t in einem gewissen Wellenl?ngenbereich in der Nachbarschaft einer charakteristischen Linie, wobei das Spektrometer verstellt werden mu?. Der Untergrund wird dabei als Mittelwert aus zwei zu beiden Seiten der Linie gemessenen Intensit?ten gewonnen. Dies

故意

Chemical Shift bei Verbindungsbestimmungen mit der Mikrosonde,e der R?ntgenemissionslinien beobachtet. Zur Bestimmung gelangten borierte Proben aus Titan, Hafnium und Tantal. Abb. 1 zeigt die untersuchten Boridschichten an diamantpolierten Schliffen. Die Struktur der Schichten wurde r?ntgenogra-phisch bestimmt. An der borierten Titanprobe (Abb. 1 a) wurde am ?

forestry

,Berührungslose Temperaturmessung an elektronenbestrahlten Targets in der Mikrosonde,ist bei massiven, gut w?rmeleitenden und kompakten metallischen Proben relativ gering und führt erfahrungsgem?? zu keinen irreversiblen Ver?nderungen. Bei schlecht w?rmeleitendem Material und dünnen Schichten k?nnen jedoch betr?chtliche Temperaturen entstehen, die zu tiefgreifenden Ver?nderungen wie

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