Titlebook: Massivbau; Bemessung im Stahlbe Peter Bindseil Textbook 20002nd edition Springer Fachmedien Wiesbaden 2000 Bauingenieurwesen.Bemessung.Beto

morphology

書目名稱Massivbau影響因子(影響力)




書目名稱Massivbau影響因子(影響力)學(xué)科排名




書目名稱Massivbau網(wǎng)絡(luò)公開度




書目名稱Massivbau網(wǎng)絡(luò)公開度學(xué)科排名




書目名稱Massivbau被引頻次




書目名稱Massivbau被引頻次學(xué)科排名




書目名稱Massivbau年度引用




書目名稱Massivbau年度引用學(xué)科排名




書目名稱Massivbau讀者反饋




書目名稱Massivbau讀者反饋學(xué)科排名

heirloom

Peter Bindseilto Uncertainty Quantification and Fast Fault Simulation.Uniq.Designs in nanoelectronics often lead to challenging simulation problems and include strong feedback couplings. Industry demands provisions for variability in order to guarantee quality and yield. It also requires the incorporation of high

改良

Peter Bindseil undesirable phenomena of these devices such as hot-spots or torque fluctuations. The underlying minimization is based on the computation of a direct problem with random input data. To investigate the propagation of uncertainties through two- and three-dimensional, spatial models the stochastic coll

細(xì)查

Peter Bindseilfacturing generate undesired variations in the produced devices. We consider an uncertainty quantification, where parameters are replaced by random variables. Consequently, the probability distributions of the parameters have to be predetermined as an input to the stochastic model. However, the vari

不合

ciliary-body

Peter Bindseilnd 2D (thin films, few layers), as well as their potential applications in nanoelectronic systems. It focuses on the size effects involved in the transition from bulk materials to nanomaterials; the electronic properties of nanoscale devices; and different classes of nanomaterials from microelectron

Campaign

Peter Bindseilns of different materials.Offers a complete reference work, .This book presents synthesis techniques for the preparation of low-dimensional nanomaterials including 0D (quantum dots), 1D (nanowires, nanotubes) and 2D (thin films, few layers), as well as their potential applications in nanoelectronic

reperfusion

Bemessungsschnittgr??enn Grenzen zu halten. Insbesondere bei lokalen Lasteinleitungen (z.B. an Auflagern) treffen die vereinfachten statischen Systeme (Stab abgebildet durch eindimensionale Systemachse und Querschnittswerte) nicht zu. In solchen Bereichen k?nnten die tats?chlichen Beanspruchungen nur durch aufwendige Erfa

rheumatism

Bemessung bei überwiegender Biegungtatisch wirksame Querschnitt besteht dann aus einer Betondruckzone und der Bewehrung als Zugband. Die Querschnittswerte sind lastabh?ngig, weil sich die H?he der Ri?zone und damit die Lage der Spannungsnulllinie mit Laststeigerung ver?ndern. Es wird von der üblichen Annahme der technischen Biegelehr

抗體

Bemessung bei überwiegender L?ngskraftieses Abschnittes. Druckglieder werden h?ufig symmetrisch bewehrt (A. = A.). Die bisher erl?uterten Bemessungsmethoden für . mit überwiegender Biegung und L?ngskraft sind hierfür nur bedingt geeignet. Im Folgenden werden deshalb spezielle Bemessungsverfahren vorgestellt. Diese werden auch bei der Be