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Titlebook: Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen; Bewertung leitungsge Teresa Tumbr?gel Book 2023 Der/die Herausgeber bzw. der/die A

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樓主
發(fā)表于 2025-3-21 18:54:21 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen
副標(biāo)題Bewertung leitungsge
編輯Teresa Tumbr?gel
視頻videohttp://file.papertrans.cn/546/545542/545542.mp4
概述autouni.Dissertation.technische Studie
叢書(shū)名稱(chēng)AutoUni – Schriftenreihe
圖書(shū)封面Titlebook: Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen; Bewertung leitungsge Teresa Tumbr?gel Book 2023 Der/die Herausgeber bzw. der/die A
描述.In diesem Buch wird ein kontaktloses Messverfahren zur Charakterisierung von leitungsgebundenen St?raussendungen vorgestellt. Dieses bietet eine L?sung zur Ableitung einer Ersatzst?rquelle, mit der sowohl die parasit?ren Eigenschaften berücksichtigt werden als auch eine geringe Rückwirkung der Messung auf das Messsystem realisiert werden kann. Um die parasit?ren Eigenschaften zu bestimmen, werden die Wellengr??en an den Anschlüssen der Komponente über einen kontaktlosen Messabgriff bestimmt. Durch die kontaktlose Messung muss nicht in das gemessene System eingegriffen werden, um einen Messabgriff zu realisieren. Die vorhandene Rückwirkung auf die Messwerte wird durch eine vorherige Kalibrierung des Messaufbaus berücksichtigt. Mit dem Messverfahren wird gezeigt, dass eine Bestimmung passiver und aktiver Leitungsabschlüsse m?glich ist. Des Weiteren wird gezeigt, dass eine Ersatzst?rquelle einer leistungselektronischen Komponente bestimmt und eine Ver?nderung der leitungsgebundenen St?raussendungen durch Ver?nderung des Messaufbaus mit dieser abgesch?tzt werden kann..
出版日期Book 2023
關(guān)鍵詞Thévenin Quellen; Ersatzst?rquelle; CISPR 25; Leitungsgebundene St?raussendungen; Elektromagnetische Ver
版次1
doihttps://doi.org/10.1007/978-3-658-42557-9
isbn_softcover978-3-658-42556-2
isbn_ebook978-3-658-42557-9Series ISSN 1867-3635 Series E-ISSN 2512-1154
issn_series 1867-3635
copyrightDer/die Herausgeber bzw. der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer Fachmedien Wiesbaden Gmb
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書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen影響因子(影響力)




書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen影響因子(影響力)學(xué)科排名




書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度




書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen網(wǎng)絡(luò)公開(kāi)度學(xué)科排名




書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen被引頻次




書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen被引頻次學(xué)科排名




書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen年度引用




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書(shū)目名稱(chēng)Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzst?rquellen讀者反饋




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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 22:38:30 | 只看該作者
,Verfahren zur kontaktlosen Charakterisierung von Ersatzst?rquellen,uf Prototypen-Versuche, die erst sp?t im Entwicklungsprozess durchgeführt werden k?nnen. Die Entwicklung kann durch ein ESQ-Modell, dass die elektrischen Eigenschaften eines DUT anhand seiner Klemmeneigenschaften beschreibt, unterstützt werden. Für die Erstellung eines ESQ-Modells k?nnen verschieden
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 02:56:21 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 06:11:06 | 只看該作者
5#
發(fā)表于 2025-3-22 10:31:41 | 只看該作者
Zusammenfassung,gestellt. Bei der Entwicklung von Fahrzeugkomponenten werden entwicklungsbegleitend und am Ende des Entwicklungszeitraumes Hardware-Tests nach CISPR 25 [16] durchgeführt. Damit wird die EMV der Komponente und nach der Integration die EMV des Gesamtfahrzeuges sichergestellt. Die Komponententests erfo
6#
發(fā)表于 2025-3-22 16:08:12 | 只看該作者
Teresa Tumbr?gelandter Modell-Sprache ganz verschiedene Formen annehmen. Verbale Modelle drücken sicher Problemstellungen, die meist Konstrukte unseres Denkens sind, am treffendsten aus. Sie sind dennoch nur eine Approximation unserer Gedanken. Darüberhinaus haben sie den Nachteil, für die Anwendung leistungsf?hige
7#
發(fā)表于 2025-3-22 17:28:31 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-22 22:57:39 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 04:05:33 | 只看該作者
978-3-658-42556-2Der/die Herausgeber bzw. der/die Autor(en), exklusiv lizenziert an Springer Fachmedien Wiesbaden Gmb
10#
發(fā)表于 2025-3-23 07:45:45 | 只看該作者
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