Titlebook: Industrial Metrology; Surfaces and Roundne Graham T. Smith Book 2002 Springer-Verlag London 2002 Metrology.Quality.Roundness.Surface textur

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Graham T. Smith MPhil (Brunel), PhD (Birmingham), CEng, FIMechE, FIEE

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Surface microscopy,aces, then the surface characterisation data in the main will tend to be possibly more qualitative. Therefore, any attempt at comparisons between the different systems becomes somewhat superfluous and, at best, would be misleading.

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