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SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties 2024/2025影響因子:2.177 (SURF TOPOGR-METROL) (2051-672X). (INSTRUMENTS &

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發(fā)表于 2025-3-21 16:43:07 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
期刊全稱(chēng)Surface Topography-Metrology and Properties
期刊簡(jiǎn)稱(chēng)SURF TOPOGR-METROL
影響因子20242.177
視頻videohttp://file.papertrans.cn/29/28991/28991.mp4
ISSN2051-672X
eISSN2051-672X
出版商IOP PUBLISHING LTD
發(fā)行地址TEMPLE CIRCUS, TEMPLE WAY, BRISTOL, ENGLAND, BS1 6BE
學(xué)科分類(lèi)1.Science Citation Index Expanded (SCIE)--Engineering, Mechanical | Instruments & Instrumentation | Materials Science, Multidisciplinary; 2.Current Contents Engineering, Computing & Technology--Materials Science & Engineering; 3.Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences--Applied Physics/Condensed Matter/Materials Science; 4.Essential Science Indicators--Materials Science;
出版語(yǔ)言English
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SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(20 21 REV HIST)影響因子


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(SURF TOPOGR-METROL)影響因子@(儀器與儀器)學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(20 21 REV HIST)總引論文


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(SURF TOPOGR-METROL)總引論文@(儀器與儀器)學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(20 21 REV HIST)影響因子


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(SURF TOPOGR-METROL)總引頻次@(儀器與儀器)學(xué)科排名


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(20 21 REV HIST)即時(shí)影響因子


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SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(20 21 REV HIST)五年累積影響因子


SCIE(SCI)期刊Surface Topography-Metrology and Properties(SURF TOPOGR-METROL)五年累積影響因子@(儀器與儀器)學(xué)科排名


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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 23:33:13 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 01:23:32 | 只看該作者
Submitted on: 15 May 2008. Revised on: 28 May 2008. Accepted on: 23 June 2008. Surface Topography-Metrology and Properties
地板
發(fā)表于 2025-3-22 08:18:07 | 只看該作者
5#
發(fā)表于 2025-3-22 11:48:24 | 只看該作者
6#
發(fā)表于 2025-3-22 15:55:31 | 只看該作者
Submitted on: 28 April 2007. Revised on: 01 June 2007. Accepted on: 08 June 2007. Surface Topography-Metrology and Properties
7#
發(fā)表于 2025-3-22 17:19:19 | 只看該作者
Submitted on: 05 December 2008. Revised on: 17 December 2008. Accepted on: 23 December 2008. Surface Topography-Metrology and Properties
8#
發(fā)表于 2025-3-22 23:59:18 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 02:16:00 | 只看該作者
10#
發(fā)表于 2025-3-23 07:48:36 | 只看該作者
Submitted on: 02 January 2009. Revised on: 27 January 2009. Accepted on: 07 February 2009. Surface Topography-Metrology and Properties
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