Titlebook: Das Risiko von Deckungslücken durch die Wissens- und Verhaltenszurechnung in der D&O-Versicherung; Katharina Thole Book 2023 Verlag Versic

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Dagmar Lorenzr offenen Systeme, der Neo-Institutionalismus und das organisationale Lernen er?rtert, um Prozesse der Organisationsentwicklung systematischer gestalten und in ihrem Ablauf auch besser verstehen zu k?nnen. Dabei ist der Blick über die engen Grenzen des Faches hinweg sowie die Darstellung der übernommenen Ans?978-3-531-15921-8978-3-531-91044-4

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Mohammad Hashim Qureshiot essential...The text covers the testing and fault diagnosis of both bipolar and Metal Oxide Semiconductor (MOS) circuits. Fault model of the devices in analog domain has been introduced in the text. The test stimulus generations are also discussed in det978-1-4419-3828-2978-0-387-25743-3Series ISSN 0929-1296

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