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SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING 2024/2025影響因子:1.177 (J ELECTRON IMAGING) (1017-9909). (ENGINEERING, ELECTRICAL & EL

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樓主: DEIGN
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發(fā)表于 2025-3-25 03:39:21 | 只看該作者
Submitted on: 12 December 2019. Revised on: 18 February 2020. Accepted on: 14 March 2020. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-25 09:09:59 | 只看該作者
Submitted on: 21 December 2006. Revised on: 13 April 2007. Accepted on: 15 May 2007. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-25 12:46:19 | 只看該作者
Submitted on: 21 November 2004. Revised on: 23 December 2004. Accepted on: 20 February 2005. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-25 17:37:53 | 只看該作者
Submitted on: 06 December 2004. Revised on: 21 February 2005. Accepted on: 07 March 2005. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-25 22:03:08 | 只看該作者
Submitted on: 01 September 2024. Revised on: 22 September 2024. Accepted on: 16 October 2024. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-26 02:06:50 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-26 08:13:13 | 只看該作者
Submitted on: 11 May 2019. Revised on: 12 July 2019. Accepted on: 11 August 2019. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-26 09:13:43 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-26 14:44:14 | 只看該作者
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發(fā)表于 2025-3-26 19:08:50 | 只看該作者
Submitted on: 23 September 2007. Revised on: 12 January 2008. Accepted on: 07 February 2008. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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