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SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING 2024/2025影響因子:1.177 (J ELECTRON IMAGING) (1017-9909). (IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPH

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發(fā)表于 2025-3-26 21:13:04 | 只看該作者
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Submitted on: 01 July 1999. Revised on: 29 July 1999. Accepted on: 14 September 1999. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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Submitted on: 11 January 2006. Revised on: 15 March 2006. Accepted on: 11 April 2006. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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Submitted on: 21 May 2020. Revised on: 11 July 2020. Accepted on: 03 August 2020. ___________________JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING---SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
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發(fā)表于 2025-3-27 19:48:10 | 只看該作者
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