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Titlebook: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie; Eine praxisbezogene Jürgen Thomas,Thomas Gemming Textbook 2023Latest edition Der/die Herau

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查看: 53029|回復(fù): 45
樓主
發(fā)表于 2025-3-21 19:47:34 | 只看該作者 |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
期刊全稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie
期刊簡稱Eine praxisbezogene
影響因子2023Jürgen Thomas,Thomas Gemming
視頻videohttp://file.papertrans.cn/157/156795/156795.mp4
發(fā)行地址Setzt den Fokus ist auf eine praktische Herangehensweise.Bietet zahlreiche Tipps basierend auf mehrj?hriger praktischer Erfahrung mit TEM.Erkl?rt die Prinzipien und Anwendung von TEM auf eine klare un
圖書封面Titlebook: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie; Eine praxisbezogene  Jürgen Thomas,Thomas Gemming Textbook 2023Latest edition Der/die Herau
影響因子Das Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen überblick über diese Methode erhalten m?chten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine spezielle elektronenmikroskopische Ausbildung durchlaufen haben. Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studierenden, Promovierenden und in technischen Berufen T?tigen. Der überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Pr?paration dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, H?chstaufl?sungselektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver R?ntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Ein mathematischer Anhang erkl?rt grundlegende Formalismen zur Thematik.
Pindex Textbook 2023Latest edition
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書目名稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie影響因子(影響力)




書目名稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie影響因子(影響力)學(xué)科排名




書目名稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie網(wǎng)絡(luò)公開度




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書目名稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie被引頻次




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書目名稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie年度引用




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書目名稱Analytische Transmissionselektronenmikroskopie讀者反饋




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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 21:26:34 | 只看該作者
,Was wir über den Aufbau eines Elektronenmikroskops und Elektronenoptik wissen sollten,ektronenmikroskop. Damit geht es um ein Mikroskop im engeren Sinn, d.?h. um ein Ger?t, in dem ein Gegenstand, n?mlich die zu untersuchende Probe, durchstrahlt und optisch abgebildet wird. Ungeachtet dessen kann in diesem Mikroskop der Elektronenstrahl auch auf die Probe fokussiert und gerastert werd
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 02:21:57 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 06:30:34 | 只看該作者
5#
發(fā)表于 2025-3-22 09:15:40 | 只看該作者
Wir schalten um auf Elektronenbeugung,er dünnen Probe umgeschaltet werden kann. Dadurch wird die Zuordnung von morphologischen und kristallografischen Materialeigenschaften m?glich. Wir wollen erkl?ren, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops ge?ndert werden muss, damit
6#
發(fā)表于 2025-3-22 13:00:38 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:40:52 | 只看該作者
8#
發(fā)表于 2025-3-22 21:33:22 | 只看該作者
9#
發(fā)表于 2025-3-23 02:38:15 | 只看該作者
,Wir nutzen die analytischen M?glichkeiten,onen im Festk?rper, d.?h. die Wechselwirkung ohne Energieverlust, ausgenutzt. Inelastische Streuprozesse, d.?h. solche, bei denen die Strahlelektronen Energie verlieren, waren unerwünscht. Sie führen zu ?nderungen der Elektronenwellenl?nge und damit zu Aufl?sungsverlust durch chromatische Aberration
10#
發(fā)表于 2025-3-23 08:59:51 | 只看該作者
,Grundlagen genauer erkl?rt (etwas mehr Mathematik),ssymmetrische magnetische Felder für Elektronen tats?chlich Linseneigenschaften? Wie funktionieren Multipole und Prismen für Elektronen? Wie kommt man auf die Formeln für die Berechnung von Beugungsreflexabst?nden und Winkeln zwischen Beugungsreflexen, wenn es sich nicht um ein kubisches Gitter hand
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