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Titlebook: A Designer’s Guide to Built-In Self-Test; Charles E. Stroud Book 2002 Springer Science+Business Media New York 2002 FPGA.Field Programmabl

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樓主
發(fā)表于 2025-3-21 19:57:39 | 只看該作者 |倒序瀏覽 |閱讀模式
期刊全稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
影響因子2023Charles E. Stroud
視頻videohttp://file.papertrans.cn/141/140643/140643.mp4
學(xué)科分類Frontiers in Electronic Testing
圖書封面Titlebook: A Designer’s Guide to Built-In Self-Test;  Charles E. Stroud Book 2002 Springer Science+Business Media New York 2002 FPGA.Field Programmabl
影響因子A recent technological advance is the art of designing circuitsto test themselves, referred to as a Built-In Self-Test (BIST). Thisidea was first proposed around 1980 and has grown to become one of themost important testing techniques at the current time, as well as forthe future. This book is written from a designer‘s perspective anddescribes the major BIST approaches that have been proposed andimplemented since 1980, along with their advantages and limitations.The BIST approaches include the Built-In Logic Block Observer,pseudo-exhaustive BIST techniques, Circular BIST, scan-based BIST,BIST for regular structures, BIST for FPGAs and CPLDs, mixed-signalBIST, and the integration of BIST with concurrent fault detectiontechniques for on-line testing. Particular attention is paid tosystem-level use of BIST in order to maximize the benefits of BISTthrough reduced testing time and cost as well as high diagnosticresolution. The author spent 15 years as a designer at Bell Labs wherehe designed over 20 production VLSI devices and 3 production circuitboards. Sixteen of the VLSI devices contained BIST of various typesfor regular structures and general sequential logic, including thefirst BIS
Pindex Book 2002
The information of publication is updating

書目名稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test影響因子(影響力)




書目名稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test影響因子(影響力)學(xué)科排名




書目名稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test網(wǎng)絡(luò)公開度




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書目名稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test被引頻次




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書目名稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test年度引用




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書目名稱A Designer’s Guide to Built-In Self-Test讀者反饋




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沙發(fā)
發(fā)表于 2025-3-21 23:23:04 | 只看該作者
板凳
發(fā)表于 2025-3-22 02:42:58 | 只看該作者
地板
發(fā)表于 2025-3-22 06:01:14 | 只看該作者
5#
發(fā)表于 2025-3-22 12:35:05 | 只看該作者
6#
發(fā)表于 2025-3-22 15:22:00 | 只看該作者
7#
發(fā)表于 2025-3-22 18:31:29 | 只看該作者
Fault Models, Detection, and Simulation,genst?ndlich beantwortet oder vergegenst?ndlicht werden darf. Eine angemessene Antwort findet die Frage letztlich nur in einem überblick darüber, was die vergangenen Ereignisse jeder Epoche bedeutet haben und wie jede Epoche Geschichten darüber verfasste.
8#
發(fā)表于 2025-3-22 22:13:34 | 只看該作者
Design for Testability,ohl die andere Seite st?rker ist. Im letzteren Fall mag David gegen Goliath gewinnen, was beweist, da? David in Wirklichkeit st?rker war. In anderen F?llen mag die kleinere Macht einen Krieg beginnen und dabei ein anderes Ziel verfolgen als einen Sieg. Und dies ist eine der furchterregendsten Aussic
9#
發(fā)表于 2025-3-23 04:19:29 | 只看該作者
Output Response Analysis, in denen alle relevanten Geschwindigkeiten sehr klein verglichen mit der Lichtgeschwindigkeit?. bleiben. Nur nach einer gründlichen Diskussion der Lage im nichtrelativistischen Fall werden wir uns in einer Position befinden, von der aus wir eine Verallgemeinerung der Massendefinition angehen k?nnen
10#
發(fā)表于 2025-3-23 05:42:08 | 只看該作者
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