| 書目名稱 | Zuverl?ssige Bauelemente für elektronische Systeme | | 副標題 | Fehlerphysik, Ausfal | | 編輯 | Titu-Marius I. B?jenescu | | 視頻video | http://file.papertrans.cn/1062/1061996/1061996.mp4 | | 概述 | Von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualit?tsüberwachung.Pr?zise und praxisnahe Zuverl?ssigkeitsaspekte umfassend dargestellt, erg?nzt durch umfangreiche Tabell | | 圖書封面 |  | | 描述 | Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverl?ssigkeit sind erg?nzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erh?lt der Leser pr?zise, praxisnah und umfassend s?mtliche Zuverl?ssigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualit?tsüberwachung.. | | 出版日期 | Book 2020 | | 關鍵詞 | Elektrotechnik; Elektronik; Halbleiter; Mikroprozessor; Zuverl?ssigkeit; Verpackungstechnologien; Nachrich | | 版次 | 1 | | doi | https://doi.org/10.1007/978-3-658-22178-2 | | isbn_ebook | 978-3-658-22178-2 | | copyright | Springer Fachmedien Wiesbaden GmbH, ein Teil von Springer Nature 2020 |
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GMT+8, 2026-1-16 10:09
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