標(biāo)題: Titlebook: Introduction to Analytical Electron Microscopy; John J. Hren,Joseph I. Goldstein,David C. Joy Book 1979 Springer Science+Business Media Ne [打印本頁(yè)] 作者: Thoracic 時(shí)間: 2025-3-21 18:38
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy影響因子(影響力)
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy影響因子(影響力)學(xué)科排名
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy網(wǎng)絡(luò)公開度
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy網(wǎng)絡(luò)公開度學(xué)科排名
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy被引頻次
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy被引頻次學(xué)科排名
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy年度引用
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy年度引用學(xué)科排名
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy讀者反饋
書目名稱Introduction to Analytical Electron Microscopy讀者反饋學(xué)科排名
作者: 防銹 時(shí)間: 2025-3-21 23:58 作者: 刺激 時(shí)間: 2025-3-22 02:28
Dennis M. Maher er der Asynchronmaschine vorangestellt. Die Kopplung eines Motors mit einer Arbeitsmaschine (Hubwerk, F?rderband, Aufzug usw.) bildet einen elektrischen Antrieb, dessen Gesetzm??igkeiten und Probleme am Ende des Kapitels behandelt werden. Hier wird auch auf Mehrquadranten-Antriebe und auf die Regel作者: sigmoid-colon 時(shí)間: 2025-3-22 06:27 作者: Reclaim 時(shí)間: 2025-3-22 08:58 作者: CUR 時(shí)間: 2025-3-22 14:44 作者: PACT 時(shí)間: 2025-3-22 17:40
M. Isaacson,M. Ohtsuki,M. Utlautine fiktive Prozesssteuerung mit Mikrorechnern dient als Grundlage für die Demonstration der Wirkungsweise von Mikroprozessoren, Ein-/ Ausgabe-Schaltkreisen, und Halbleiterspeichern und deren Zusammenspiel. Dabei wird aus methodischen Gründen die Assemblerprogrammierung benutzt, da man auf ihrer Gru作者: HOWL 時(shí)間: 2025-3-23 00:25 作者: 救護(hù)車 時(shí)間: 2025-3-23 04:20 作者: 小歌劇 時(shí)間: 2025-3-23 06:01 作者: LVAD360 時(shí)間: 2025-3-23 12:43
Book 1979are still far from a complete description of what many call AEM. When electron beams interact with a solid it is well-known that a bewildering number of possible interactions follow. Analytical electron microscopy attempts to take full qualitative and quantitative advantage of as many of these inter作者: ELUDE 時(shí)間: 2025-3-23 15:11 作者: incite 時(shí)間: 2025-3-23 19:05 作者: 殖民地 時(shí)間: 2025-3-23 23:04
J. M. Cowley ich mich für die wertvolle Hilfe bei der computergestützten Erstellung der Bilder und beim Durchrechnen der übungsaufgaben bedanken. Weiterhin gilt mein Dank Herrn Dr. Jens Schlembach vom Teubner- Verlag für die gute Zusa978-3-8351-9003-0作者: BRIEF 時(shí)間: 2025-3-24 05:02
R. H. Geiss ich mich für die wertvolle Hilfe bei der computergestützten Erstellung der Bilder und beim Durchrechnen der übungsaufgaben bedanken. Weiterhin gilt mein Dank Herrn Dr. Jens Schlembach vom Teubner- Verlag für die gute Zusa978-3-8351-9003-0作者: Oafishness 時(shí)間: 2025-3-24 09:00
J. I. Goldstein ich mich für die wertvolle Hilfe bei der computergestützten Erstellung der Bilder und beim Durchrechnen der übungsaufgaben bedanken. Weiterhin gilt mein Dank Herrn Dr. Jens Schlembach vom Teubner- Verlag für die gute Zusa978-3-8351-9003-0作者: 結(jié)束 時(shí)間: 2025-3-24 12:05
T. A. Hall,B. L. Gupta ich mich für die wertvolle Hilfe bei der computergestützten Erstellung der Bilder und beim Durchrechnen der übungsaufgaben bedanken. Weiterhin gilt mein Dank Herrn Dr. Jens Schlembach vom Teubner- Verlag für die gute Zusa978-3-8348-9291-1作者: FAST 時(shí)間: 2025-3-24 18:43 作者: 迅速飛過 時(shí)間: 2025-3-24 20:15 作者: agglomerate 時(shí)間: 2025-3-25 03:07 作者: 凹處 時(shí)間: 2025-3-25 06:52 作者: 繁忙 時(shí)間: 2025-3-25 08:14 作者: 動(dòng)脈 時(shí)間: 2025-3-25 11:57 作者: lavish 時(shí)間: 2025-3-25 19:25
Monte Carlo Simulation in Analytical Electron Microscopy,isticated Monte Carlo model have been given by GEISS and KYSER (1979) and NEWBURY and MYKLEBUST (1979). Finally, FAULKNER .. (1977) and FAULKNER and NORRGARD (1978) have used a simplified Monte Carlo model to estimate electron scattering and spatial resolution on AEM.作者: myalgia 時(shí)間: 2025-3-25 22:55
Elemental Analysis Using Inner-Shell Excitations: A Microanalytical Technique for Materials Charactelectron beam and this volume. The desired elemental information is carried either: i) in the secondary emission of X-rays or Auger electrons which occur during the decay of the primary excitation process; or ii) in the transmitted-electron energy-loss spectrum which reflects the primary excitations作者: PTCA635 時(shí)間: 2025-3-26 00:27 作者: Carcinogen 時(shí)間: 2025-3-26 04:31 作者: comely 時(shí)間: 2025-3-26 10:47
978-1-4757-5583-1Springer Science+Business Media New York 1979作者: CROW 時(shí)間: 2025-3-26 14:11
https://doi.org/10.1007/978-1-4757-5581-7X-ray; cognition; crystal; development; diffraction; electron microscopy; fabrication; materials characteri作者: chemoprevention 時(shí)間: 2025-3-26 18:47
EDS Quantitation and Application to Biology,The quantitative x-ray microanalysis of biological tissue sections differs from that of inorganic specimens strikingly in several ways:作者: GILD 時(shí)間: 2025-3-26 21:16 作者: infatuation 時(shí)間: 2025-3-27 03:34
http://image.papertrans.cn/i/image/473404.jpg作者: 取回 時(shí)間: 2025-3-27 06:21 作者: INERT 時(shí)間: 2025-3-27 11:52
Book 1979ts birth? Was AEM born with the attachment of a crystal spectrometer to an otherwise conventional TEM? Or was it born earlier with the first analysis of electron loss spectra? It‘s not likely that any of these developments alone would have been sufficient and there have been many others (microdiffra作者: geriatrician 時(shí)間: 2025-3-27 14:24
Microanalysis by Lattice Imaging,d is most powerful, viz. on a highly localised level. In this article the application of fringe imaging is considered for the determination of chemical composition, emphasising procedures for obtaining and interpreting the images in a reliable way and illustrating the situations where such images are beneficial.作者: 祖先 時(shí)間: 2025-3-27 18:00 作者: hereditary 時(shí)間: 2025-3-28 01:37
Microdiffraction, the introduction of the STEM electron microscope, the lens configuration used for diffraction was such that spherical aberration of the objective lens prevented diffraction patterns from an area less than 500 nm from being formed. This limitation, and the means for bypassing it with microdiffraction, is worth describing in detail.作者: 包裹 時(shí)間: 2025-3-28 05:25
Convergent Beam Electron Diffraction,e so flat that some important angular average will not occur over such areas. Thickness and orientation are two crucial parameters of electron diffraction and it is essential to eliminate their variation within the illuminated volume if meaningful results are to be obtained.作者: MULTI 時(shí)間: 2025-3-28 07:01
Radiation Effects in Analysis of Inorganic Specimens by TEM,tion of the atomic structure under analysis. Such perturbations may be generically labelled radiation effects and, where they lead to permanent alterations in atomic structure, can be sensibly termed radiation damage.作者: 無能性 時(shí)間: 2025-3-28 10:37 作者: 鼓掌 時(shí)間: 2025-3-28 15:33
The Basic Principles of Electron Energy Loss Spectroscopy,the basic physics of EELS will be discussed and the important concepts will be defined and described. The following chapters will then take these ideas and apply them in the contexts of biological, materials science and solid state studies.作者: 松軟無力 時(shí)間: 2025-3-28 22:06
Radiation Damage with Biological Specimens and Organic Materials, type of “damage endpoint” that is being studied. For further details, beyond what is described here, the reader is referred to a number of recent reviews on the subject of radiation damage in biological and organic materials (COSSLETT, 1978; ISAACSON, 1977; SEVERAL AUTHORS, 1975).作者: 詳細(xì)目錄 時(shí)間: 2025-3-29 02:26 作者: 轉(zhuǎn)換 時(shí)間: 2025-3-29 06:41 作者: 召集 時(shí)間: 2025-3-29 10:39
ndlagen der Elektrotechnik und Elektronik sowie ihrer Anwendungen notwendig sind. Der Stoff entspricht etwa den Anforderungen, die heute an eine moderne Ingenieurausbildung, bei der Elektrotechnik nicht das Hauptfach bildet, gestellt werden. Das Buch ist auch für Studierende der Elektrotechnik in de作者: Autobiography 時(shí)間: 2025-3-29 15:12
J. M. Cowleyndlagen der Elektrotechnik und Elektronik sowie ihrer Anwendungen notwendig sind. Der Stoff entspricht etwa den Anforderungen, die heute an eine moderne Ingenieurausbildung, bei der Elektrotechnik nicht das Hauptfach bildet, gestellt werden. Das Buch ist auch für Studierende der Elektrotechnik in de作者: Esophagus 時(shí)間: 2025-3-29 16:07 作者: 詳細(xì)目錄 時(shí)間: 2025-3-29 21:05 作者: Arable 時(shí)間: 2025-3-30 00:34
Nestor J. Zaluzecdig sind. Der Stoff entspricht etwa den Anforderungen, die heute an eine moderne Ingenieurausbildung, bei der Elektrotechnik nicht das Hauptfach bildet, gestellt werden. Das Buch ist auch für Studierende der Elektrotechnik in den Anfangssemestern geeignet. Vorkenntnisse in Physik und Mathematik sind作者: Admonish 時(shí)間: 2025-3-30 05:06 作者: 無能力之人 時(shí)間: 2025-3-30 08:44
David F. Kyserdig sind. Der Stoff entspricht etwa den Anforderungen, die heute an eine moderne Ingenieurausbildung, bei der Elektrotechnik nicht das Hauptfach bildet, gestellt werden. Das Buch ist auch für Studierende der Elektrotechnik in den Anfangssemestern geeignet. Vorkenntnisse in Physik und Mathematik sind作者: cringe 時(shí)間: 2025-3-30 15:54 作者: Autobiography 時(shí)間: 2025-3-30 18:50 作者: 人類學(xué)家 時(shí)間: 2025-3-31 00:36
Dennis M. Maherechnet man Gleichstrom- und Wechsel- bzw. Drehstrommaschinen, wobei letztere Gruppe von den Asynchron- und den Synchronmaschinen gebildet wird. Jede rotierende Maschine kann als Generator oder als Motor arbeiten. Von den Gleichstrommaschinen hat der Gleichstromnebenschlussmotor noch eine gewisse Bed作者: squander 時(shí)間: 2025-3-31 04:13
John Silcoxypischen Begriffe wie Augenblickswert, Amplitude, Kreisfrequenz, Frequenz, Periodendauer, Phasenverschiebung, arithmetischer Mittelwert, Effektivwert usw. erkl?rt. Aus dem Liniendiagramm des Stromes wird das Zeigerdiagramm als anschauliche Interpretation des Wechselstromes abgeleitet. Für Widerstand作者: 腐蝕 時(shí)間: 2025-3-31 06:27 作者: vibrant 時(shí)間: 2025-3-31 12:13 作者: 收養(yǎng) 時(shí)間: 2025-3-31 14:51
M. Isaacson,M. Ohtsuki,M. Utlautik in der heutigen Zeit weitgehend dominiert. Es werden zun?chst Bauelemente wie Halbleiterwiderst?nde, Dioden, Transistoren, Thyristoren und optoelektronische Bausteine mit ihren Kennlinien und ihrer Funktionsweise behandelt. Danach erfolgt eine ausführliche Beschreibung der mit diesen Bauelementen作者: 漂亮才會(huì)豪華 時(shí)間: 2025-3-31 21:30
J. B. Warrenbiet ferner stehenden Studierenden, Ingenieuren und anderen Interessierten die physikalischen Zusammenh?nge in der Elektrizit?tslehre und in deren wichtigsten Anwendungsgebieten deutlich zu machen. Dabei war ich stets bemüht, von einfachen, der Leserin oder dem Leser oft aus eigener Erfahrung bekann作者: Astigmatism 時(shí)間: 2025-3-31 22:25 作者: 公理 時(shí)間: 2025-4-1 02:12
J. J. Hrenin vielf?ltigerForm in der Informatik zurInformationsverarbeitung, -speicherung und-übertragung genutzt werden. DieStoffauswahl erfolgt nach p?dagogischübergreifenden Gesichtspunkten ausAnwendersicht. Leser mit unterschiedlichenVorkenntnissen werden schrittweise in das Gebieteingeführt und alle Grun作者: Osteons 時(shí)間: 2025-4-1 08:17
Robert Sinclairin vielf?ltigerForm in der Informatik zurInformationsverarbeitung, -speicherung und-übertragung genutzt werden. DieStoffauswahl erfolgt nach p?dagogischübergreifenden Gesichtspunkten ausAnwendersicht. Leser mit unterschiedlichenVorkenntnissen werden schrittweise in das Gebieteingeführt und alle Grun作者: 轉(zhuǎn)換 時(shí)間: 2025-4-1 10:14 作者: 厭倦嗎你 時(shí)間: 2025-4-1 15:36
Introductory Electron Optics,on microscope who is interested in understanding the qualitative features of the electron optical column but does not want to design a microscope. Because of this, mathematical statements are made and not derived in general and, in fact, mathematics is kept to a minimum with little more than high sc作者: bypass 時(shí)間: 2025-4-1 19:05 作者: ONYM 時(shí)間: 2025-4-2 00:07
Quantitative X-Ray Microanalysis: Instrumental Considerations and Applications to Materials Scienceability to observe and characterize the morphology, crystallography, and elemental composition of regions of a specimen as small as 20 nm in diameter is a major breakthrough for materials science. In this chapter the practical aspects of the application of x-ray microanalysis to nonbiological system