作者: N斯巴達(dá)人 時(shí)間: 2025-3-21 21:26
,Was wir über den Aufbau eines Elektronenmikroskops und Elektronenoptik wissen sollten,ektronenmikroskop. Damit geht es um ein Mikroskop im engeren Sinn, d.?h. um ein Ger?t, in dem ein Gegenstand, n?mlich die zu untersuchende Probe, durchstrahlt und optisch abgebildet wird. Ungeachtet dessen kann in diesem Mikroskop der Elektronenstrahl auch auf die Probe fokussiert und gerastert werd作者: nephritis 時(shí)間: 2025-3-22 02:21 作者: THE 時(shí)間: 2025-3-22 06:30 作者: MILK 時(shí)間: 2025-3-22 09:15
Wir schalten um auf Elektronenbeugung,er dünnen Probe umgeschaltet werden kann. Dadurch wird die Zuordnung von morphologischen und kristallografischen Materialeigenschaften m?glich. Wir wollen erkl?ren, wieso überhaupt Elektronenbeugungsmuster entstehen und was an den Linsen innerhalb des Elektronenmikroskops ge?ndert werden muss, damit作者: 預(yù)測(cè) 時(shí)間: 2025-3-22 13:00 作者: 圖畫文字 時(shí)間: 2025-3-22 18:40 作者: interference 時(shí)間: 2025-3-22 21:33 作者: 我的巨大 時(shí)間: 2025-3-23 02:38
,Wir nutzen die analytischen M?glichkeiten,onen im Festk?rper, d.?h. die Wechselwirkung ohne Energieverlust, ausgenutzt. Inelastische Streuprozesse, d.?h. solche, bei denen die Strahlelektronen Energie verlieren, waren unerwünscht. Sie führen zu ?nderungen der Elektronenwellenl?nge und damit zu Aufl?sungsverlust durch chromatische Aberration作者: Cardiac 時(shí)間: 2025-3-23 08:59
,Grundlagen genauer erkl?rt (etwas mehr Mathematik),ssymmetrische magnetische Felder für Elektronen tats?chlich Linseneigenschaften? Wie funktionieren Multipole und Prismen für Elektronen? Wie kommt man auf die Formeln für die Berechnung von Beugungsreflexabst?nden und Winkeln zwischen Beugungsreflexen, wenn es sich nicht um ein kubisches Gitter hand作者: 洞察力 時(shí)間: 2025-3-23 10:26 作者: 門窗的側(cè)柱 時(shí)間: 2025-3-23 14:24 作者: tariff 時(shí)間: 2025-3-23 19:45
,Wir erh?hen die Vergr??erung,iegen. Die Atomabst?nde in den Kristallgittern sind in dieser Gr??enordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzfl?chen auf atomarer Skala geh?rt dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergr??erten und hochaufgel?sten Abbildung amorpher Materialien auftreten.作者: indemnify 時(shí)間: 2025-3-23 23:43
Jo?o Lucio de Azevedo,Maria Carolina Quecineen w?chst im Vergleich zum Volumen der Oberfl?chenanteil und dessen thermodynamisches Potential spielt eine viel st?rkere Rolle als bei massivem Material. Dies macht den Reiz der Nanostrukturen aus. Darüber hinaus entstehen neuartige Eigenschaften: Kobalt-Kupfer-Wechselschichten mit Einzeldicken um 作者: 鞭打 時(shí)間: 2025-3-24 04:54 作者: CHYME 時(shí)間: 2025-3-24 08:54 作者: 指耕作 時(shí)間: 2025-3-24 12:36 作者: 葡萄糖 時(shí)間: 2025-3-24 18:13 作者: STYX 時(shí)間: 2025-3-24 19:56
Alejandra G. Becerra,Marcelo R. Zakr wei?e Stift liefert keinen Kontrast. Auch im Elektronenmikroskop ben?tigen wir nicht nur ein hohes Aufl?sungsverm?gen sondern auch einen Bildkontrast. Dieser ist das Ergebnis der Wechselwirkung zwischen den Strahlelektronen (Prim?relektronen) und der durchstrahlten Probe. Anders als in der Lichtmi作者: Myofibrils 時(shí)間: 2025-3-25 02:20 作者: 協(xié)奏曲 時(shí)間: 2025-3-25 06:19
https://doi.org/10.1007/b102300 erwünscht. Die Elektronenoptik?des Beleuchtungssystems?eines TEM (Kondensorsystem und Teil des Objektivfeldes vor dem Objekt) ist in der Lage, den Elektronenstrahl sehr fein zu fokussieren und damit Elektronensondendurchmesser von weniger als 0,1?nm in der Probenebene zu erzeugen. Ablenksysteme erm作者: miracle 時(shí)間: 2025-3-25 09:14 作者: Glossy 時(shí)間: 2025-3-25 13:41 作者: 驚奇 時(shí)間: 2025-3-25 17:08
Jürgen Thomas,Thomas GemmingSetzt den Fokus ist auf eine praktische Herangehensweise.Bietet zahlreiche Tipps basierend auf mehrj?hriger praktischer Erfahrung mit TEM.Erkl?rt die Prinzipien und Anwendung von TEM auf eine klare un作者: 種類 時(shí)間: 2025-3-25 21:56
http://image.papertrans.cn/a/image/156795.jpg作者: 我邪惡 時(shí)間: 2025-3-26 02:46
Thermophilic, Thermotolerant Microorganisms,iegen. Die Atomabst?nde in den Kristallgittern sind in dieser Gr??enordnung. Auch die Untersuchung von Korngrenzen und anderen Grenzfl?chen auf atomarer Skala geh?rt dazu. Wir wollen aber auch die Effekte bedenken, die bei der hochvergr??erten und hochaufgel?sten Abbildung amorpher Materialien auftreten.作者: bromide 時(shí)間: 2025-3-26 04:53 作者: capsule 時(shí)間: 2025-3-26 08:45
Alejandra G. Becerra,Marcelo R. Zakn Probenbereichen die dominierende Ursache für den Kontrast. Sp?ter werden wir sehen, dass insbesondere bei sehr hohen Vergr??erungen auch Phasenschiebungen der Elektronenwelle für den Kontrast verantwortlich sein k?nnen.作者: Benzodiazepines 時(shí)間: 2025-3-26 15:00 作者: JOT 時(shí)間: 2025-3-26 19:59 作者: 植物群 時(shí)間: 2025-3-26 21:35
Warum sehen wir Kontraste im Bild?,n Probenbereichen die dominierende Ursache für den Kontrast. Sp?ter werden wir sehen, dass insbesondere bei sehr hohen Vergr??erungen auch Phasenschiebungen der Elektronenwelle für den Kontrast verantwortlich sein k?nnen.作者: 圓桶 時(shí)間: 2025-3-27 04:46 作者: Cytology 時(shí)間: 2025-3-27 08:55 作者: Oration 時(shí)間: 2025-3-27 11:37 作者: 負(fù)擔(dān) 時(shí)間: 2025-3-27 16:04 作者: 洞察力 時(shí)間: 2025-3-27 20:36 作者: Reservation 時(shí)間: 2025-3-27 22:42 作者: 溫室 時(shí)間: 2025-3-28 04:22 作者: bourgeois 時(shí)間: 2025-3-28 07:56 作者: CHAFE 時(shí)間: 2025-3-28 13:10
kl?rt die Prinzipien und Anwendung von TEM auf eine klare unDas Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen überblick über diese Methode erhalten m?chten. I作者: definition 時(shí)間: 2025-3-28 14:48 作者: Working-Memory 時(shí)間: 2025-3-28 18:44
,Wir pr?parieren elektronentransparente Proben,gt zu beachten, dass für die Transmissionselektronenmikroskopie geeignete dünne Proben ben?tigt werden und die Pr?paration solcher Proben alles andere als einfach und selbstverst?ndlich ist. Dieses Kapitel gibt einen überblick über geeignete Pr?parationsmethoden.作者: Hearten 時(shí)間: 2025-3-29 02:42 作者: Anticoagulants 時(shí)間: 2025-3-29 03:35 作者: Peak-Bone-Mass 時(shí)間: 2025-3-29 09:44 作者: LOPE 時(shí)間: 2025-3-29 13:11
